摘要：一種電源的老化測試電路，涉及電源老化測試技術領域，其結構包括方波發(fā)生器，所述方波發(fā)生器的輸入端接有RC振蕩電路，所述方波發(fā)生器的輸出端接有控制電路，所述控制電路包括可控硅二極管，所述可控硅二極管導通則輸入至待測電源的電壓接通至待測電源，所述可控硅二極管截止則輸入至待測電源的電壓與待測電源斷開，這樣通過方波發(fā)生器和可控硅二極管來實現(xiàn)電源老化測試時的輸入電壓的通斷控制，則可避免使用交流接觸器而產(chǎn)生的可能導致開關電源在輸入的整流部分燒壞的情況發(fā)生，電路結構簡單，可實現(xiàn)電源的老化測試安全進行，測試時對電源的損壞小。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人易事特集團股份有限公司;
- 發(fā)明人賈芳;
- 地址523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)工業(yè)北路6號C-1棟3樓
- 申請?zhí)?/b>CN201510973360.4
- 申請時間2015年12月22日
- 申請公布號CN105589047A
- 申請公布時間2016年05月18日
- 分類號G01R31/40(2014.01)I;
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