摘要：本發(fā)明提供一種非接觸式LED整燈結(jié)溫測量系統(tǒng)，電學(xué)測量系統(tǒng)同時連接環(huán)境模擬系統(tǒng)與數(shù)據(jù)控制處理系統(tǒng)；數(shù)據(jù)控制處理系統(tǒng)連接光譜測量系統(tǒng)；光譜測量系統(tǒng)與環(huán)境模擬系統(tǒng)連接；探頭運動系統(tǒng)包括萬能夾裝平臺和移動探頭，移動探頭固定于萬能夾裝平臺；光譜測量系統(tǒng)包括光纖和光譜儀，光纖和光譜儀相連；電學(xué)測量系統(tǒng)包括脈沖電源和電壓表，脈沖電源與電壓表并聯(lián)；光纖固定于移動探頭內(nèi)；電壓表通過采集卡傳輸至數(shù)據(jù)控制處理系統(tǒng)；光纖通過采集卡傳輸至數(shù)據(jù)控制處理系統(tǒng)。本發(fā)明可以極大縮短LED結(jié)溫測量時間，測量精度高；采用非接觸式測量，對測試樣品無任何破壞；改變了傳統(tǒng)測試方法只能測試LED芯片、模組的局限，可對整燈可進(jìn)行測試，應(yīng)用范圍廣闊。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人中科科隆光電儀器設(shè)備無錫有限公司;
- 發(fā)明人周子焱;
- 地址214000 江蘇省無錫市濱湖區(qū)高浪東路999號A1號樓111室
- 申請?zhí)?/b>CN201310732651.5
- 申請時間2013年12月21日
- 申請公布號CN104729742A
- 申請公布時間2015年06月24日
- 分類號G01K7/01(2006.01)I;G01K11/00(2006.01)I;
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