摘要：本發(fā)明提供了一種中階梯光柵在掃描型光譜儀器中的應用，屬于掃描型光譜儀器技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明入射光經(jīng)第一凹面反光鏡聚焦反射，經(jīng)第一平面反光鏡反射，在第一狹縫處聚焦；入射光經(jīng)第一狹縫進入第一分光器，經(jīng)第二平面反光鏡反射到凹面光柵，凹面光柵通過旋轉(zhuǎn)，進行波長選擇、反射聚焦到第二狹縫；入射光經(jīng)第二狹縫進入第二分光器，經(jīng)第二凹面反光鏡反射匯聚成平行光到中階梯光柵，中階梯光柵通過旋轉(zhuǎn)，進行級次選擇、反射到第三凹面反光鏡，經(jīng)第三凹面反光鏡反射聚焦到出射狹縫。本發(fā)明將中階梯光柵作為主分光元件，通過高級次光譜實現(xiàn)較高的光譜色散和理想的光學分辨率。使用中階梯光柵能夠把分光器設(shè)計的很小。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京銳光儀器有限公司;
- 發(fā)明人李毅;
- 地址102206 北京市昌平區(qū)生命園路9號
- 申請?zhí)?/b>CN201410554834.7
- 申請時間2014年10月17日
- 申請公布號CN104406692A
- 申請公布時間2015年03月11日
- 分類號G01J3/06(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I;
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