摘要：定制測(cè)試儀器?？梢蕴峁┒鄬?duì)代碼模塊。每對(duì)代碼模塊可以包括第一代碼模塊和第二代碼模塊，第一代碼模塊具有用于由測(cè)試儀器的處理器執(zhí)行的程序指令，第二代碼模塊用于在測(cè)試儀器的可編程硬件元件上實(shí)現(xiàn)。對(duì)于每對(duì)代碼模塊，第一代碼模塊和第二代碼模塊可以共同地實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器中的功能?？梢越邮罩付ㄋ龆鄬?duì)代碼模塊的至少一對(duì)中的第二代碼模塊的修改的用戶輸入。相應(yīng)地，可以基于經(jīng)修改的第二代碼模塊來(lái)生成用于測(cè)試儀器的可編程硬件元件的硬件描述。
- 專利類型PCT發(fā)明
- 申請(qǐng)人美國(guó)國(guó)家儀器有限公司;
- 發(fā)明人C·G·斯科羅德?tīng)?C·F·格拉夫;C·T·尼施古奇;N·G·德索扎;D·J·巴科爾;T·D·瑪格魯?shù)聽(tīng)?
- 地址美國(guó)得克薩斯
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201380019995.X
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年02月15日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN104364766A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年02月18日
- 分類號(hào)G06F11/263(2006.01)I;
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