摘要：本發(fā)明涉及列驅(qū)動芯片的測試方法及系統(tǒng)，包括：a.測試被測列片的各電壓端口之間的阻抗，均為開路則進行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品終止后續(xù)測試；b.將被測列片插入顯示屏模組上尋址電極驅(qū)動板的插座，并接通各路電源。通過顯示屏模組上測試板測量被測列片的六個輸出測試點的電平是否為低，若是則進行后續(xù)步驟；否則為不良品，可終止后續(xù)測試。c.在測試板上將芯片使能端口和低輸出控制端口接邏輯電源，高壓輸出控制端口接邏輯地，測量被測列片的六個輸出測試點的電平是否為高，若是則進行后續(xù)步驟；否則該列片為不良品，可終止后續(xù)測試。本發(fā)明能夠通過方便、靈活地對控制信號進行調(diào)整的方式，充分滿足了列片各方面性能參數(shù)的測試需要。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人四川長虹電器股份有限公司;
- 發(fā)明人李珣;
- 地址621000 四川省綿陽市高新區(qū)綿興東路35號
- 申請?zhí)?/b>CN201410218813.8
- 申請時間2014年05月22日
- 申請公布號CN104091554A
- 申請公布時間2014年10月08日
- 分類號G09G3/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;
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