摘要：本發(fā)明提供一種一體化的低水平測量α、β閃爍體及其熱壓制備工藝，其特征在于通過沉積、熱壓工藝，在有機導光襯托體的表面上，依次設(shè)有一層有機發(fā)光材料沉積物和一層無機發(fā)光材料沉積物。解決了在一塊閃爍體上既能探測α射線，又能探測β射線，并且α、β混道小，探測效率高，本底低。閃爍體表面光潔，可清洗，不怕污染，防潮，防腐，防震，耐輻照。新型閃爍體與低水平α、β測量裝置配套，可廣泛用于放射性物質(zhì)中的α、β射線測量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人核工業(yè)總公司北京核儀器廠;
- 發(fā)明人鄭輝明;潘仲韜;
- 地址100020北京市8800信箱
- 申請?zhí)?/b>CN94113467.9
- 申請時間1994年12月30日
- 申請公布號CN1034366C
- 申請公布時間1997年03月26日
- 分類號G01T1/20;
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