摘要：本發(fā)明提供了一種用輔助電極擊穿來帶電檢測真空斷路器真空度的方法，所述真空斷路器包括上出線桿、扭轉(zhuǎn)保護(hù)環(huán)、波紋管、屏蔽罩、動觸頭、靜觸頭、下出線桿和絕緣外殼，所述方法包括以下步驟：（a）在所述屏蔽罩和所述絕緣外殼之間設(shè)置用于檢測真空度的輔助電極，所述輔助電極設(shè)置在所述絕緣外殼內(nèi)側(cè)，其一端與所述屏蔽罩之間相隔一定間隙距離；（b）將所述輔助電極和所述屏蔽罩引出到所述真空斷路器的外部；（c）將所述輔助電極和所述屏蔽罩引出后接入到檢測回路中，并通過施加沖擊電壓以測試二者之間的擊穿情況，若擊穿，則所述真空斷路器的真空度不滿足要求，若未擊穿，則所述真空斷路器的真空度滿足要求。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華北電力大學(xué);
- 發(fā)明人鄭重;黃智偉;陳校蕓;
- 地址102206 北京市昌平區(qū)德勝門外朱辛莊北農(nóng)路2號
- 申請?zhí)?/b>CN201310292672.X
- 申請時間2013年07月12日
- 申請公布號CN103346039B
- 申請公布時間2015年07月08日
- 分類號H01H33/668(2006.01)I;
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