摘要：本發(fā)明公開了一種材料反射特性測(cè)量裝置及方法，包括中空激發(fā)源、監(jiān)測(cè)裝置和測(cè)量裝置，中空激發(fā)源發(fā)出的光線照射到被測(cè)樣品上，測(cè)量裝置接收從被測(cè)樣品反射出的穿過(guò)中空激發(fā)源空心部分的反射光線，監(jiān)測(cè)裝置監(jiān)測(cè)中空激發(fā)源發(fā)出的光線的光譜信息，通過(guò)本發(fā)明公開的相應(yīng)的測(cè)量方法，可以測(cè)量并計(jì)算得到被測(cè)樣品全面的光譜反射特性。本發(fā)明設(shè)計(jì)巧妙、光路簡(jiǎn)單，無(wú)需光學(xué)暗室，即可實(shí)現(xiàn)材料回復(fù)反射的光度、色度和光譜特性的快速、準(zhǔn)確測(cè)量，具有功能強(qiáng)大、測(cè)量準(zhǔn)確度高、體積小、成本低、設(shè)計(jì)一體化等特點(diǎn)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人杭州遠(yuǎn)方光電信息股份有限公司;
- 發(fā)明人潘建根;
- 地址310053 浙江省杭州市濱江區(qū)濱康路669號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201310321487.9
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年07月26日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103344613B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年09月28日
- 分類號(hào)G01N21/55(2014.01)I;G01N21/25(2006.01)I;
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