摘要：本發(fā)明提供了一種基于CCD的光電直讀光譜儀異常點篩選方法，包括步驟一：上位機設(shè)置激發(fā)參數(shù)信息；步驟二：下位機采集CCD數(shù)據(jù)，并對數(shù)據(jù)進行累加和計算平均值；步驟三：下位機將計算出的累加值與平均值傳輸至上位機；步驟四：上位機再次設(shè)置激發(fā)參數(shù)信息；步驟五：上位機設(shè)置P、S的位置信息；步驟六：下位機采集并存儲CCD數(shù)據(jù)；步驟七：下位機將P、S的光譜數(shù)據(jù)傳輸至上位機；步驟八：上位機通過對步驟六傳輸?shù)臄?shù)據(jù)進行處理計算，得出元素含量；本發(fā)明一種基于CCD的光電直讀光譜儀異常點篩選方法，解決了下位機存儲容量和數(shù)據(jù)處理能力不足無法實現(xiàn)CCD光譜數(shù)據(jù)異常篩選的問題，有效提高了CCD直讀光譜測量P、S的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，對于含量從0.1％～0.6％的P、S數(shù)據(jù)穩(wěn)定性從原來的RSD為5％提升到1％。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司;
- 發(fā)明人顧德安;
- 地址江蘇省無錫市北塘區(qū)新惠路12號9號樓
- 申請?zhí)?/b>CN201310182693.6
- 申請時間2013年05月17日
- 申請公布號CN103308490A
- 申請公布時間2013年09月18日
- 分類號G01N21/63(2006.01)I;
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