摘要：本發(fā)明公開一種用于進行金屬缺陷檢測的渦流檢測裝置及其渦流探頭。渦流探頭包括一個以上正交組合探頭，每個正交組合探頭包括一個激勵線圈和兩個感應線圈，兩個感應線圈的幾何中心重合，兩個感應線圈的中心橫截面均經(jīng)過激勵線圈的幾何中心，激勵線圈以及兩個感應線圈的中心橫截面兩兩垂直。若正交組合探頭為兩個以上，則所有正交組合探頭的激勵線圈的中心橫截面在同一個平面上，且所有激勵線圈的幾何中心在同一直線上。渦流檢測裝置包括控制器、信號發(fā)生電路、濾波及放大電路、相敏檢波電路、信號采集卡、上位機、第一高速模擬開關(guān)、第二高速模擬開關(guān)和所述渦流探頭。本發(fā)明具有較高的檢測靈敏度和檢測速度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人浙江大學;
- 發(fā)明人陳佩華;黃平捷;李國厚;周澤魁;
- 地址310058 浙江省杭州市西湖區(qū)余杭塘路866號
- 申請?zhí)?/b>CN201310133460.7
- 申請時間2013年04月17日
- 申請公布號CN103196996B
- 申請公布時間2016年06月08日
- 分類號G01N27/90(2006.01)I;
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