摘要：本發(fā)明公開了一種針對掃描測試中捕獲功耗的優(yōu)化方法，包括如下步驟：生成帶掃描鏈網(wǎng)表；門控時(shí)鐘單元分組；功耗約束單元設(shè)計(jì)；結(jié)合生成帶掃描鏈的網(wǎng)表，進(jìn)行芯片版圖上設(shè)計(jì)，芯片版圖設(shè)計(jì)包括布圖規(guī)劃、布局、時(shí)鐘樹綜合和布線；在完成芯片版圖設(shè)計(jì)后，將帶掃描結(jié)構(gòu)的門級網(wǎng)表、工藝庫、時(shí)序約束文件和測試協(xié)議讀入自動(dòng)測試向量生成工具，進(jìn)行可測試性設(shè)計(jì)規(guī)則檢查，最后生成測試向量；對生成的測試向量進(jìn)行門級仿真。本發(fā)明可以大幅度減少測試過程中的捕獲功耗，同時(shí)本發(fā)明不會(huì)導(dǎo)致覆蓋率下降和測試向量數(shù)目激增，不需要測試設(shè)計(jì)流程的改變，而且容易實(shí)現(xiàn)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人江蘇東大集成電路系統(tǒng)工程技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人蔡志匡;陳慧;黃丹丹;李哲文;邵金梓;
- 地址210012 江蘇省南京市雨花區(qū)花神大道文竹路23號
- 申請?zhí)?/b>CN201210592088.1
- 申請時(shí)間2012年12月29日
- 申請公布號CN103091620B
- 申請公布時(shí)間2014年12月10日
- 分類號G06F1/04(2006.01)I;
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