RAID卡的測試方法

　　摘要：本發(fā)明提供了一種RAID卡的測試方法，包括：步驟S1：將RAID卡與多塊硬盤相連接，從而形成RAID陣列；以及步驟S2：移除RAID陣列中的至少一塊硬盤，并使用第一硬盤壓力測試工具對RAID陣列進行壓力測試。本發(fā)明所公開的RAID卡的測試方法能夠全面準確地測試RAID卡的穩(wěn)定性，省時省力。

專利類型發(fā)明專利
申請人曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司;
發(fā)明人李景運;
地址300384 天津市西青區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)（環(huán)外）海泰華科大街15號1-3層
申請?zhí)?/b>CN201110455790.9

申請時間2011年12月31日

申請公布號CN102541704B

申請公布時間2014年08月13日

分類號G06F11/22(2006.01)I;

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