摘要：本發(fā)明公開了一種研發(fā)數(shù)據(jù)處理方法及系統(tǒng)，所述方法包括：從各個設(shè)計工具中獲取產(chǎn)品總體指標(biāo)下各個子指標(biāo)對應(yīng)的設(shè)計參數(shù)值；根據(jù)所述設(shè)計參數(shù)值以及預(yù)設(shè)的總體指標(biāo)計算公式，計算各個總體指標(biāo)的實際設(shè)計值；根據(jù)各個總體指標(biāo)的實際設(shè)計值、目標(biāo)值以及狀態(tài)閾值，分別確定各個總體指標(biāo)的第一指標(biāo)狀態(tài)。所述方法和系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)對于研發(fā)數(shù)據(jù)的集中控制。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人安世亞太科技（北京）有限公司;
- 發(fā)明人梅林濤;劉斌;任江濤;楊金沖;佘玲玲;
- 地址100026 北京市朝陽區(qū)西大望路1號溫特萊中心A座5A
- 申請?zhí)?/b>CN200910244010.9
- 申請時間2009年12月24日
- 申請公布號CN102110075A
- 申請公布時間2011年06月29日
- 分類號G06F17/00(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I;
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