摘要：本發(fā)明提供了一種用于對飛機天線性能進行測試的技術方案，其中，通過一個網絡分析儀來提供測試信號，并經由一個飛機天線仿真盒進入待測線路并由待測天線發(fā)出，由于其中會產生一部分反射波，通過測量駐波比，來衡量待測天線以及待測線路的性能，判斷其是否滿足工程設計要求。采用本發(fā)明所提供的方法和設備，能夠有效地對飛機天線的性能進行提前測試，從而有效地保證了實際安裝在飛機上的天線都能夠滿足一定的工程設計要求，不會給飛機實際的地面活動或飛行帶來安全隱患。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人中國商用飛機有限責任公司;上海飛機制造有限公司;上海埃威航空電子有限公司;
- 發(fā)明人楊國恩;李誠;沈惠仙;董建偉;張波權;黃光成;
- 地址200122 上海市浦東新區(qū)世紀大道1777號第10、11、12層
- 申請?zhí)?/b>CN200910055644.X
- 申請時間2009年07月30日
- 申請公布號CN101988936A
- 申請公布時間2011年03月23日
- 分類號G01R27/06(2006.01)I;
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