摘要：一種測量設(shè)備2，包括一個單進(jìn)程測量單元21、一個輸入單元22、一個具有參數(shù)顯示區(qū)的顯示單元24、一個分別連接測量單元21、輸入單元22和顯示單元24的控制單元23，其中，控制單元23對來自輸入單元22的一個切換信號敏感，使所述的測量單元21交替執(zhí)行一個主參數(shù)測量和一個副參數(shù)測量，使所述的參數(shù)顯示區(qū)用于呈現(xiàn)所述的主參數(shù)測量和副參數(shù)測量的測量結(jié)果。本發(fā)明測量設(shè)備2在測量一個參數(shù)或多個參數(shù)的時候均利用一個顯示單元24來進(jìn)行顯示，因此資源利用率較高且方便使用。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京普源精電科技有限公司;
- 發(fā)明人王悅;王鐵軍;李維森;
- 地址102206 北京市昌平區(qū)沙河鎮(zhèn)踩河村156號
- 申請?zhí)?/b>CN200910119840.9
- 申請時間2009年03月19日
- 申請公布號CN101839932A
- 申請公布時間2010年09月22日
- 分類號G01R15/12(2006.01)I;
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