摘要：本發(fā)明公開了一種硬度計(jì)測(cè)量單元，其包括：負(fù)荷傳感器；測(cè)量機(jī)構(gòu)；保護(hù)套；其中所述測(cè)量機(jī)構(gòu)包括豎直設(shè)置的光柵尺和使該光柵尺與所述壓頭座跟隨運(yùn)動(dòng)的光柵尺架，所述光柵尺下部設(shè)置的觸頭與光柵尺架軸孔配合而形成對(duì)光柵尺徑向和向下運(yùn)動(dòng)的限位，且所述觸頭與所述保護(hù)套配合跟隨保護(hù)套運(yùn)動(dòng)?；诒景l(fā)明技術(shù)方案的硬度計(jì)測(cè)量單元可以最大限度地消除硬度計(jì)自身結(jié)構(gòu)變形所帶來(lái)的測(cè)量誤差的硬度計(jì)測(cè)量單元，且其結(jié)構(gòu)緊湊，制造成本低。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人濟(jì)南試金集團(tuán)有限公司;
- 發(fā)明人孫善燁;徐會(huì)正;王金陽(yáng);王健;
- 地址250022 山東省濟(jì)南市市中區(qū)濟(jì)微路24號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200910223150.8
- 申請(qǐng)時(shí)間2009年11月14日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN101710050A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2010年05月19日
- 分類號(hào)G01N3/42(2006.01)I;G01N3/02(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;
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