摘要：本發(fā)明提供了一種小屏蔽體電磁屏蔽效能測試裝置、系統(tǒng)和方法。在需要測量的頻率范圍內(nèi)選擇多個頻點進(jìn)行測量。本發(fā)明使用點頻輻射源作為信號源放在被測小屏蔽體內(nèi)，不同頻率通過不同的發(fā)射天線，將信號發(fā)射到小屏蔽體外，然后在小屏蔽體外通過相對應(yīng)的接收天線進(jìn)行接收，再放大后輸出到一個頻譜儀進(jìn)行測量。其中發(fā)射天線在全頻段內(nèi)進(jìn)行了小型化處理，且置于點頻輻射源內(nèi)，特別是磁場發(fā)射天線采用了全新設(shè)計和蜂窩式繞法，大大提高了發(fā)射效率。磁場接收天線采用了帶有電屏蔽的共面環(huán)型天線全新的設(shè)計使得它具有翻轉(zhuǎn)180°后基本不影響測量性能的特點。本發(fā)明的測試裝置使用簡便，成本較低，值得推廣應(yīng)用。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京大澤科技有限公司;
- 發(fā)明人李立嘉;
- 地址100016 北京市朝陽區(qū)將臺路2號
- 申請?zhí)?/b>CN200910090031.X
- 申請時間2009年07月30日
- 申請公布號CN101662078B
- 申請公布時間2012年08月29日
- 分類號H01Q23/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;H03K3/02(2006.01)I;H03L7/08(2006.01)I;
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