摘要：本發(fā)明提供一種超聲測厚儀的單晶探頭和雙晶探頭識別和應(yīng)用方法，該方法包括：將發(fā)射電路和接收電路同時與第一探頭插座接通，根據(jù)接收到的信號，判斷該第一探頭插座上連接是否有超聲探頭晶片存在；以及將發(fā)射電路和接收電路同時與第二探頭插座接通，根據(jù)接收到的信號，判斷該第二探頭插座上連接是否有超聲探頭晶片存在，從而進一步判斷連接的探頭是單晶探頭還是雙晶探頭，并將電路切換到該類探頭的應(yīng)用狀態(tài)。本發(fā)明還提供一種超聲測厚儀，該超聲測厚儀包括通路切換電路，設(shè)置在發(fā)射電路和接收電路與探頭插座之間。本發(fā)明在同一臺超聲測厚儀上實現(xiàn)單晶探頭測量方式或雙晶探頭測量方式，提高了測試效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;
- 發(fā)明人孫磊;曹永超;彭雪蓮;徐西剛;
- 地址100085北京市海淀區(qū)上地西路28號1幢二層
- 申請?zhí)?/b>CN200710308465.3
- 申請時間2007年12月29日
- 申請公布號CN101469979A
- 申請公布時間2009年07月01日
- 分類號G01B17/02(2006.01)I;
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