摘要：本發(fā)明公開了一種本振泄漏自動(dòng)消除裝置，包括：用于檢測(cè)本振泄漏信號(hào)的耦合電容；用于放大檢測(cè)到的本振泄漏信號(hào)的放大器；用于對(duì)放大的信號(hào)進(jìn)行檢波，輸出直流信號(hào)的高頻峰值檢測(cè)器；用于將檢波后的直流信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行比較的可編程的遲滯比較器；根據(jù)比較結(jié)果輸出控制信號(hào)，控制可編程的電流源輸出補(bǔ)償信號(hào)實(shí)現(xiàn)本振泄漏的消除，同時(shí)控制可編程的遲滯比較器變化遲滯窗口的大小的數(shù)字信號(hào)處理模塊。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確消除CMOS無(wú)線射頻收發(fā)機(jī)中的本振泄漏，提高信號(hào)的有效功率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京六合萬(wàn)通微電子技術(shù)股份有限公司;
- 發(fā)明人王海永;吳南健;壽國(guó)梁;
- 地址100083 北京市海淀區(qū)知春路27號(hào)量子芯座18層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200610140491.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2006年10月10日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN101162910B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2011年09月21日
- 分類號(hào)H04B1/38(2006.01)I;H03L7/085(2006.01)I;
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