摘要：本發(fā)明公開了一種測量非金屬板厚度的方法，它適用于工程建筑領(lǐng)域或其他領(lǐng)域中非金屬板厚度的無損檢測。本發(fā)明的測厚原理基于在空間交變電磁場中，空間某點(diǎn)磁場強(qiáng)度(用該點(diǎn)線圈的感應(yīng)電壓U表示)隨該點(diǎn)距場源的距離H增大而單調(diào)衰減，用試驗(yàn)標(biāo)定的方法，建立表征感應(yīng)電壓U與距離H相關(guān)關(guān)系的數(shù)值表。測試時(shí)，發(fā)射線圈在非金屬板的一側(cè)產(chǎn)生交變磁場，在非金屬板另一側(cè)的接收線圈接收交變磁場信號，經(jīng)接收電路轉(zhuǎn)換成電壓信號U，通過查表在已標(biāo)定的數(shù)組表中確定對應(yīng)的H值，即非金屬板厚度。全部過程可在單片機(jī)控制下自動(dòng)完成。本原理簡單明確，經(jīng)濟(jì)實(shí)用，便于推廣應(yīng)用。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京市康科瑞工程檢測技術(shù)有限責(zé)任公司;
- 發(fā)明人王利廣;闞月鵬;崔艷秋;濮存亭;孫剛柱;唐金祥;王文秋;徐松濤;楊靜;王岌;陳廣晴;
- 地址100088北京市西城區(qū)德外大街11號C座423號(德勝園區(qū))
- 申請?zhí)?/b>CN200610104109.5
- 申請時(shí)間2006年08月02日
- 申請公布號CN101118149A
- 申請公布時(shí)間2008年02月06日
- 分類號G01B7/06(2006.01);G01B15/02(2006.01);
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