摘要：本發(fā)明公開了檢測電極表面的細(xì)胞和/或分子的裝置。該裝置通過測量由細(xì)胞和/或分子導(dǎo)致的阻抗的改變來檢測細(xì)胞和/或分子。裝置的一個(gè)公開的實(shí)施方案包括一個(gè)帶有沿著長軸的兩個(gè)相對(duì)末端的基片。多個(gè)電極陣列(100)被定位于基片上。每個(gè)電極陣列包括至少兩個(gè)電極(110，120)，并且在電極陣列中，每個(gè)電極通過絕緣材料區(qū)域與至少一個(gè)相鄰的電極分開。電極在它的最寬點(diǎn)的寬度為絕緣材料區(qū)域?qū)挾鹊募s1.5倍到10倍。裝置也包括導(dǎo)電跡線(125，130)，它們基本沿長軸延伸到基片的兩個(gè)相對(duì)末端中的一個(gè)，并且與其它導(dǎo)電跡線(125，130)是互不交錯(cuò)的。每條跡線與至少一個(gè)電極陣列電連通。
- 專利類型PCT發(fā)明
- 申請(qǐng)人艾森生物(杭州)有限公司;
- 發(fā)明人王小波;徐曉;
- 地址中國浙江省杭州市西湖區(qū)科技經(jīng)濟(jì)園西園五路2號(hào)3幢一層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN03822454.2
- 申請(qǐng)時(shí)間2003年07月18日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN100487133C
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2009年05月13日
- 分類號(hào)C12Q1/02(2006.01)I;C12M1/34(2006.01)I;
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