隨著同步輻射光源（Synchrotron X-ray light sources）的大量應(yīng)用，XAFS技術(shù)（包含XANES（X-ray absorption near-edge structure）和EXFAS (Extended X-ray absorption fine structure )）逐漸發(fā)展成為一種非常實(shí)用的結(jié)構(gòu)分析方法。XAFS對(duì)中心吸收原子的局域結(jié)構(gòu)（尤其是在0.1 nm范圍內(nèi)）及其化學(xué)環(huán)境十分敏感，因而可以在原子尺度上給出某一特征原子周?chē)鷰讉€(gè)臨近配位殼層的結(jié)構(gòu)信息，包括配位原子種類(lèi)及其與中心原子的距離、配位數(shù)、無(wú)序度等，在物理、化學(xué)、材料、生物和環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著難以替代的作用。
然而，由于XAFS技術(shù)通常依賴(lài)于同步輻射X射線(xiàn)光源，大地限制了XAFS技術(shù)在各領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來(lái)，實(shí)驗(yàn)室用臺(tái)式XAFS譜儀的出現(xiàn)，使得在實(shí)驗(yàn)室日常使用XAFS技術(shù)進(jìn)行材料的精細(xì)結(jié)構(gòu)分析成為了可能。2013年臺(tái)實(shí)驗(yàn)室用臺(tái)式XAFS譜儀誕生于美國(guó)華盛頓大學(xué)物理系Gerald T. Seidler教授課題組，并于2015年成立了easyXAFS公司，致力于實(shí)驗(yàn)室用臺(tái)式XAFS譜儀在全球的推廣和應(yīng)用（圖1）。臺(tái)式XAFS譜儀采用了的X射線(xiàn)單色器設(shè)計(jì)，無(wú)需使用同步輻射光源，在常規(guī)的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中即可實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)的測(cè)量和分析，以高的靈敏度和光源質(zhì)量，得到了可以媲美同步輻射水平的X射線(xiàn)吸收譜圖，實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的定性和定量分析、價(jià)態(tài)分析、配位結(jié)構(gòu)解析等。
圖1. easyXAFS公司創(chuàng)始人Gerald Seilder教授及臺(tái)式XAFS/XES譜儀實(shí)物圖
實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式XAFS譜儀的多領(lǐng)域應(yīng)用
使用臺(tái)式X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀，研究人員將不再依賴(lài)同步輻射光源，可在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)日常使用XAFS技術(shù)研究材料中感興趣的活性金屬元素和電子結(jié)構(gòu)信息，包括氧化態(tài)和化學(xué)鍵共價(jià)性(XANES)，以及配位數(shù)，電子授體和原子間距等(EXAFS)。主要用于催化劑、電池能源、陶瓷、環(huán)境材料、放射性核素、礦物、地質(zhì)材料等價(jià)態(tài)和化學(xué)配位環(huán)境的變化表征。
1. 電能存儲(chǔ)
作為一項(xiàng)具前途的應(yīng)用領(lǐng)域，電能儲(chǔ)存的發(fā)展離不開(kāi)XAFS譜學(xué)表征。X射線(xiàn)吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES）作為一種有力的表征，可在不同的細(xì)節(jié)水平上研究電池材料的電子特性。例如，常規(guī)方法使用XANES評(píng)估電池材料在循環(huán)過(guò)程中的氧化還原可逆性（如圖2）；此外，許多XANES的例子也表明其可解決更復(fù)雜的形態(tài)研究，包括鎳鈷鋁氧化物正材料的鋰化動(dòng)力學(xué)，辨別在鋰錳尖晶石電中的可溶錳離子，評(píng)估鋰硫電池中硫化物沉淀和活性物質(zhì)利用不足的情況，并作為預(yù)測(cè)鋰硫電池次優(yōu)容量的重要依據(jù)。
圖2. (a) 使用臺(tái)式XAFS譜儀和同步輻射光源獲得的VOPO4電池電材料中V元素的K邊的XANES譜圖對(duì)比；（b）使用臺(tái)式XAFS譜儀獲得的NMC電池電材料中Ni元素在充放電狀態(tài)下的K邊的XANES譜圖對(duì)比；（c，e, f）不同充電狀態(tài)下NMC中Ni, Mo和Co元素的XANES譜圖；（d）不同充電速率下Ni元素的K邊位置對(duì)比。
多種因素表明鋰離子電池(LIB)正材料可作為實(shí)驗(yàn)室X射線(xiàn)吸收譜儀的理想系統(tǒng)。這是因?yàn)榈湫偷恼饘傺趸飳拥暮穸韧ǔ?huì)給出X射線(xiàn)吸收邊步長(zhǎng) ?μ·x ～1 - 2, 表明其進(jìn)行XAFS分析研究是可行的。另外，目前鋰電池正材料的電化學(xué)活性元素通常為3d過(guò)渡金屬，其K邊能量一方面足夠高，使得一些空氣衰減完全可以接受，另一方面又足夠低，使SBCA和其它基于布拉格方程的能量分析器仍然有很好的效率。
華盛頓大學(xué)的曹?chē)?guó)忠教授等人使用實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式XAFS研究了三種不同的類(lèi)型導(dǎo)電聚合物(V?-V2O5/PANI, V?-V2O5/PEDOT和V?-V2O5/PPy)包裹的V2O5納米纖維在聚合過(guò)程中在界面處生成?的情況（圖3 a-f）。這些表面的V?會(huì)形成一個(gè)局部的電場(chǎng)，促進(jìn)V?-V2O5/PPy納米微粒的電荷轉(zhuǎn)移動(dòng)力學(xué)，并且伴隨的V4+和V3+還可以催化氧化還原反應(yīng)，結(jié)果顯著地提高超電容器的整體性能。通過(guò)對(duì)三種不同CP涂層的異同進(jìn)行了比較和討論發(fā)現(xiàn)，V?在CP中的分布取決于其聚合條件和包覆厚度。另外，研究人員將XAFS和XPS技術(shù)有機(jī)結(jié)合起來(lái)，全面的闡述了V?在表面層和體中的存在及其對(duì)電化學(xué)的影響，這種改善的電材料的電荷轉(zhuǎn)移動(dòng)力學(xué)有望應(yīng)用于下一代儲(chǔ)能系統(tǒng)中。
圖3. (a-c) 使用臺(tái)式XAFS譜儀得到的V?-V2O5/PANI, V?-V2O5/PEDOT和V?-V2O5/PPy中V元素的XANES譜圖對(duì)比；（d）V?-V2O5/PANI的SEM圖像及XANES；（e）KVOH和VOH的XRD和V元素的XANES譜圖對(duì)比；（f）使用XPS和XANES表征V?-V2O5/PEDOT計(jì)算的得到的V2O5中氧空位的含量對(duì)比；（g-j）使用臺(tái)式XAFS譜儀得到的V箔片的EXAFS譜圖及其R和k空間變換譜圖。
2. 催化領(lǐng)域
臺(tái)式X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)技術(shù)可以解決的催化科學(xué)相關(guān)問(wèn)題有：
1）深入研究催化劑材料的構(gòu)效關(guān)系，是發(fā)表高檔次文章的必備條件之一；
2）深入開(kāi)展催化劑表征研究，尤其是單原子催化劑，能夠加強(qiáng)科研水平，為課題申請(qǐng)和順利完成提供良好的技術(shù)支持；
3）XAFS可與XPS技術(shù)結(jié)合使用，全方面的了解催化劑材料表面和體相中元素的價(jià)態(tài)和配位信息；
4）可搭配定制XAFS原位反應(yīng)池，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)催化反應(yīng)中催化劑價(jià)態(tài)配位等信息的變化，為催化機(jī)理的闡釋提供數(shù)據(jù)支持。
圖4. (a) 使用臺(tái)式XAFS譜儀獲得的Ni， Cu, Pt等材料的XANES和EXAFS譜圖及其與同步輻射光源獲得數(shù)據(jù)對(duì)比
3. 其他領(lǐng)域（地質(zhì)，環(huán)境，放射化學(xué)等）
除了能源存儲(chǔ)之外，臺(tái)式XAFS譜儀還被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)學(xué)，環(huán)境領(lǐng)域（XES，Cr/As元素的價(jià)態(tài)分析），放射化學(xué)（Ce， U元素的價(jià)態(tài)分析）等，如下圖5所示。
圖5. 使用臺(tái)式XAFS譜儀獲得的不同礦石材料的Fe的XANES譜圖, 不同材料Cr元素的XES譜圖，以及材料中Ce和U元素的XANES譜圖及其與同步輻射數(shù)據(jù)比較
4. X射線(xiàn)發(fā)射譜XES的應(yīng)用
除此之外，X射線(xiàn)發(fā)射譜（XES，X-ray emission spectroscopy）, 又可稱(chēng)為波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光譜（WDXRF，Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectroscopy）, 通過(guò)對(duì)特定元素內(nèi)層電子受激發(fā)后外層電子弛豫過(guò)程中發(fā)射的X射線(xiàn)熒光能量和強(qiáng)度進(jìn)行分析，也可以的給出分析原子的氧化態(tài)，自旋態(tài)，共價(jià)，質(zhì)子化狀態(tài)，配體環(huán)境等信息。由于不依賴(lài)于同步輻射，且得益于特有的單色器設(shè)計(jì)，可以在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨寬角高通量的XES元素分析（包括P, S, V，Zn, Cr, Ni, As, U, etc. ）。如圖6所示，通過(guò)對(duì)不同化合物中P元素的特征Kα和Kβ軌道能的XES譜圖進(jìn)行定性和定量，可以方便的得到InP量子點(diǎn)中的P元素價(jià)態(tài)及表面缺陷信息，相比于NMR等技術(shù)更加簡(jiǎn)單方便。其他的實(shí)例還包括使用特征S元素的 Kα XES譜圖對(duì)不同生物炭中的低含量S元素進(jìn)行不同價(jià)態(tài)(氧化態(tài))的定性定量分析，V, As, U, Zn的特征XES譜圖，和通過(guò)Cr元素特征Kα XES譜圖對(duì)塑料中重金屬鉻元素的價(jià)態(tài)進(jìn)行分析等等。
圖6. 通過(guò)臺(tái)式XAFS/XES譜儀測(cè)得的P元素特征Kα和Kβ軌道能的XES譜圖對(duì)InP量子點(diǎn)表面缺陷進(jìn)行定性和定量分析
實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式XAFS譜儀優(yōu)勢(shì)：
1. 臺(tái)式設(shè)計(jì)，可以在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)隨時(shí)滿(mǎn)足日常樣品分析；
2. LabVIEW軟件腳本控制，附帶7位自動(dòng)樣品輪,可以同時(shí)進(jìn)行多個(gè)樣品或樣品參數(shù)條件下的測(cè)試；
3. 可集成輔助設(shè)備，控制樣品條件，適用于對(duì)空氣敏感的樣品的檢測(cè)或一些原位測(cè)試，如原位的鋰電池或電催化實(shí)驗(yàn)測(cè)試，監(jiān)測(cè)電/催化材料的結(jié)構(gòu)變化；
4. 臺(tái)式XAFS/XES譜儀具有XAFS和XES兩種工作模式，可快速切換，滿(mǎn)足不同科研試驗(yàn)需求;
5. 臺(tái)式XAFS/XES譜儀測(cè)得的譜圖效果可以媲美同步輻射數(shù)據(jù)，如圖7所示，其測(cè)得的Ni元素的EXAFS，Ce和U元素的L3-edge的XANES譜圖數(shù)據(jù)與同步輻射光源譜圖效果完全一致；
圖7. 臺(tái)式XAFS/XES譜儀與同步輻射光源測(cè)得的（a, b）Ni EXAFS, （c）Ce和U L3-edge XANES譜圖數(shù)據(jù)對(duì)比
6. 多種型號(hào)和配置可選，滿(mǎn)足不同科研要求；
7.操作便捷，維護(hù)成本低，安全可靠；
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