涂層測儀除了可以測量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層，亦可以測量金屬電鍍的鍍層測厚儀，因此，涂層測厚儀，通常也稱為涂鍍層測厚儀。

　　涂層測厚儀

　　?涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理般有以下五種類型:

　　1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測量度

　　2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法度低

　　3.聲波測厚法:目前內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但般價格昂貴\測量度也不.

　　4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.般度也不.測量起來較其他幾種麻煩

　　5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(般在10RMB以上),適用于些殊場合.

　　內(nèi)目前使用為普遍的是1\2兩種方法

　　常規(guī)涂層測厚儀的原理

　　對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)家和際標準中稱為覆層(coating)。

　　覆層厚度測量已成為業(yè)、表面程質(zhì)量檢測的重要環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的備手段。為使產(chǎn)品際化，我出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

　　覆層厚度的測量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的緣覆層測厚時采用。

　　隨著術(shù)的日益步，別是近年來引入微機術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多能、度、實用化的方向了步。測量的分辨率已達0.1微米，度可達到1%，有了大幅度的提。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

　　測量原理

　　. 磁吸力測量原理及測厚儀

　　久磁鐵(測頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系，這個距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可行測量。鑒于大多數(shù)業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標尺及自停機構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動成這記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。

　　這種儀器的點是操作簡便、堅固耐用、不用電源，測量前無須校準，價格也較低，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制

　　電渦流測量原理

　　頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的水平。

　　采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽氧化膜。覆層材料有定的導(dǎo)電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適

　　DRF系列測厚儀點:

　　具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);

　　具有兩種作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);

　　設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV)

　　可行零點校準和二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差行修正;

　　具有存貯能:可存貯300個測量值;

　　具有刪除能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)行刪除,也可刪除涂層測厚儀存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便行新的測量;

　　可設(shè)置限界:對限界外的測量值能自動報警;

　　具有與PC機通訊的能:可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC機，以便涂層測厚儀對數(shù)據(jù)行步處理; 具有電源欠壓示能;

　　操作過程有蜂鳴聲提示;

　　具有錯誤提示能;

　　具有自動關(guān)機能。

　　影響涂層測厚儀測量值度的因素

　　影響因素的有關(guān)說明

　　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器行校準;亦可用待涂覆試件行校準。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器行校準。

　　c 基體金屬厚度

　　每種儀器都有個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

　　d 邊緣效應(yīng)

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處行測量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

　　g 磁場

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚作。

　　h 附著物質(zhì)

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　i 測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測頭與試樣表面保持垂直。

　　使用儀器時應(yīng)當遵守的規(guī)定

　　a 基體金屬性

　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　b 基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法行校準。

　　c 邊緣效應(yīng)

　　不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測量。

　　d 曲率

　　不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

　　e 讀數(shù)次數(shù)

　　通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此須在每測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局差異，也要求在給定的面積內(nèi)行多次測量，表面粗時更應(yīng)如此。

　　表面清潔度

　　測量前，應(yīng)清除表面上的何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去何覆蓋層物質(zhì)

　　涂層測厚儀中F，N以及FN的區(qū)別:

　　F代表ferrous 鐵磁性基體，F(xiàn)型的涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)原理， 來測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。

　　N代表Non- ferrous非鐵磁性基體，N型的涂層測厚儀采用電渦流原理;來測量用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。

　　應(yīng)用域

　　應(yīng)用:用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。 涂層測厚儀在測量物體時,除測量方法外,還會有其他因數(shù)會導(dǎo)致測量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請看下表. 測量方式法 磁性測量 渦流測量 基體金屬磁性質(zhì)

　　本公司主營 不銹鋼采水器，罐底焊縫真空檢測盒，讀數(shù)儀，八空氣微生物采樣器，繼電器綜合測試儀，雙波長掃描儀，涂層測厚儀，土壤粉碎機，鋼化玻璃表面平整度測試儀，聲音傳感器，便攜式電測水位計，網(wǎng)口流量計，腐蝕率儀，便攜式劃痕儀，凝固點測試儀，水質(zhì)檢測儀，在線氨氣測試儀，涂層測厚儀，涂層測厚儀，土壤粉碎機，數(shù)顯式溫度計，氣體采樣泵，陶瓷抗沖擊試驗機，自動結(jié)晶點測試儀，藥物凝固點測試儀，干簧管測試儀，恒溫水浴箱，汽油根轉(zhuǎn)，氣體采樣泵，鋼化玻璃測試儀，水質(zhì)檢測儀，PM2.5測試儀，可吸入顆粒物檢測儀，頻熱合機，應(yīng)變控制三軸儀，牛奶體細胞檢測儀，氦氣濃度檢測儀，土壤水分電導(dǎo)率測試儀，場強儀，采集箱，透色比測定儀，毛細吸水時間測定儀，氧化還原電位計 測振儀，氧化碳二氧化碳檢測儀，CO2分析儀，示波譜儀，黏泥含量測試儀，汽車啟動電源，自動電位滴定儀，便攜式測溫儀，氧化鋯分析儀，干簧管測試儀，密電導(dǎo)率儀，TOC水質(zhì)分析儀，微電腦可塑性測定儀，風(fēng)向站，自動點樣儀，土壤氧化還原電位計，數(shù)字測溫儀，便攜式總磷測試儀，腐蝕率儀，恒溫水浴箱，余氯檢測儀，自由膨脹率儀，離心杯，混凝土飽和蒸汽壓裝置，顆粒強度測試儀，斯計，自動涂膜機，安閥研磨具，氣象站，動覺方位儀，暗適應(yīng)儀，氣味采集器，雨量計，四合氣體分析儀，乳化液濃度計，溶解氧儀，溫度測量儀，薄層鋪板器，溫度記錄儀，老化儀，噪音檢測儀，恒溫恒濕箱，分體電阻率測試儀，初粘性和持粘性測試儀，紅外二氧化碳分析儀，氫燈，動覺方位儀，恒溫動物手術(shù)臺，冷卻風(fēng)機，油脂酸價檢測儀，粘數(shù)測定儀，菌落計數(shù)器，氣象站，雨量計，凱氏定氮儀，熒光增白劑，平磨儀，燃料電池性綜合試驗儀，溶解儀，在線PH計，現(xiàn)場動平衡儀，真空閥門，聲波液位變送器，阿貝折射儀，水質(zhì)快速檢測器，污泥比組測定裝置，掃描儀，氮吹儀，個人劑量報警儀，公司秉承“顧客至上，銳意取”的經(jīng)營理念，堅持“客戶”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎惠顧!